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FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。

Raditech致力于光學(xué)檢測設(shè)備，在光學(xué)量測設(shè)備領(lǐng)域?qū)I(yè)度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺國人自制的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」，能協(xié)助產(chǎn)業(yè)界邁向更精密化、更微細(xì)化，技術(shù)與國際大廠并駕齊驅(qū)，產(chǎn)品精確度高、價(jià)格具競爭力，穩(wěn)健邁向國內(nèi)自制最高質(zhì)量之精密光學(xué)量測設(shè)備制造商。